VNA-Mess-System
E2V6151 (2 axis)
E3V6151 (3 axis)
E4V6151 (4 axis)
Die Integration eines VNA(Vector Network Analyzer) ermöglicht es, automatisch Hochfrequenzeigenschaften zu messen, einschließlich S-Parameter-Messungen, sowie die Bewertung der Eigenschaften von Geräten und Leiterplatten der 5G-Technik. Verschiedenste Anwendungen wie die Messung des Übertragungsverlustes von Hochgeschwindigkeits-Leiterplatten für Rechenzentren und die Erkennung von Fehlern in Tiefenbohrungen sind möglich. Tastköpfe können um 180° gedreht werden um maximale Annäherung zu ermöglichen und mit diversen VNA- & TDR-Messgeräten verbunden werden. Prüfstellen können mit einer Kamera direkt betrachtet werden. Auch eine Verbindung zu diversen anderen VNA- und TDR-Messgeräten ist möglich. Darüber hinaus kann das 4-Tastkopf-Modell die Vorder- und Rückseite der Leiterplatte messen.

Durch die Verwendung von Testköpfen, wie beispielsweise der ACP-Serie von FormFactor, ist es möglich, sowohl den Anfangs- als auch den Endpunkt der Leiterplatte zu kontaktieren.

Die Hochfrequenzprobeeinheit ist mit einem Drehmechanismus ausgestattet, welcher es erlaubt, eng nebeneinander liegende Pads in verschiedensten Anordnungen zu testen. Eine Vielzahl anderer Hochfrequenzprobes, wie die ACP Serie von Form Factor (ehemals Cascade Microtech), werden ebenfalls unterstützt.