MicroCraft

  • Sarra
  • TDR/VNA测量系统

可对5G应用中使用的设备或基板进行特性评估。
满足下一代需求的高频特性测量系统。

E2V6151 / E3V6151 / E4V6151

E2V/E3V/E4V6151

VNA量测仪器
E2V6151 (2探头)
E3V6151 (3探头)
E4V6151 (4探头)
可搭载VNA(矢量网络分析仪)，并自动测量高频特性的系统。还可以进行S参数的测量，及对5G应用中使用的设备或基板进行特性评估。同时，还有对数据中心中所使用的高速数据传输用电路板的传送损耗，背钻不良点的发现等各种各样的用途。探头可旋转180°，且探针之间可以接近，还可通过可视相机显示测量点，并与各种VNA测量仪，TDR测量仪连接。另外，4个探头的机型能对基板的正反两面进行测量。

通过接触线路的两端来进行S参数等测量。

在每个机械臂上分别安装如Form Factor制的ACP系列探头，就可以接触到线路的两端。

高频探头组

180°旋转机构

高频探头装置配备有旋转机构，可以使探头之间紧密接近，从而可以测试各种焊盘。 支持高频探头，例如Form Factor的ACP系列和许多其他探头。

机台规格

E2V6151
(2探头)		 E3V6151
(3探头)		 E4V6151
(4探头)
最大测试范围

570 x 460 mm

570 x 460 mm

570 x 460 mm
架板系统

自动夹板

自动夹板

自动夹板
旋转半径

180°

180°

180°
X–Y轴重复精度

±4 µm

±4 µm

±4 µm
θ角重复精度

1°

1°

1°
空压规格 (压力)

0.5 MPa

0.5 MPa

0.5 MPa
空压规格 (容量)

3.5 ℓ/min.

3.5 ℓ/min.

3.5 ℓ/min.
电源
单相AC200–240 V 50/60 Hz

10 A

12 A

15 A
重量

1500 kg

1510 kg

1520 kg
尺寸表 (mm)

系统需求

控制用电脑和显示器 *1
操作环境 21–24℃、30–70%（相对湿度）
* 请勿在有大量结露，灰尘，振动和/或腐蚀性气体的环境中使用
大气露点：−14℃或更低（0.7 MPa，压力露点为15℃或更低）
油雾浓度：1 mg/㎥ (ANR) 以下

*1 请与我们的销售人员联系以获取详细信息。

VNA测量系统可以兼容的测量仪 *2

Keysight Technologies

E5063A (500MHz/1.5GHz/3GHz/4.5GHz/6.5GHz/8.5GHz/14GHz/18GHz)
E5080B (4.5GHz/6.5GHz/9GHz/14GHz/20GHz/26.5GHz/32GHz/44GHz/53GHz)
N5224B (43.5GHz)
N5225B (50GHz)
N5227B (67GHz)
N5244B (43.5GHz)
N5245B (50GHz)
N5247B (67GHz)
P5007A (44GHz)
P5007B (44GHz)
P5027A (44GHz)
P5027B (44GHz)

Rohde & Schwarz

ZNA40 (40GHz)
ZNA43 (43.5GHz)
ZNA50 (50GHz)
ZNA67 (67GHz)
ZNB40 (40GHz)
ZNB43 (43.5GHz)
ZNBT40 (40GHz)
安立

MS46524B (8.5GHz/20GHz/43.5GHz)

*2 请与我们的销售人员联系以获取详细信息。量测仪需另外购买。

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