- 印刷电路板检测装置
MicroCraft的独特探针,种类丰富,
能对应包括低扎痕等各种要求及需要。
高速·高精度探针部件
Type10探针
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Type10探针为了应对高速检测,对细节结构进行了重新审核,并采用轻量素材构成研发的新一代探针。通过设定能够最大限度的发挥搭载马达的扭矩性能及驱动速度,从而实现高速检测。
数字化PPC(Probe Pressure Control)
以稳定接触而得到公认好评的MicroCraft按压检测构造,新研发了数字化PPC(探针压力控制)让压力调整作业更简易化。探针交换时根据设备提示来进行探针更换,之后无需进行压力调整作业,设备直接按指定的压力值开始检测,其操作的简易程度令人震惊。此功能为本型录中的G型号标准配置。
Type9探针
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内建编码器
Type9型探针是S系列(超高精度型号)的标准探针*。马达内置编码器,可以通过编码器的反馈进行平稳的控制,实现从低速到高速的,可靠性高的测试。且根据独特的速度设定,在维持低扎痕的同时提高检测速度。并配备了数字化PPC。
* S系列以外的机型为选配项目。
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增强探針刚度
探针是完成精确定位的最后部分,但是它也是受众多外部因素影响的部分。 例如,温度是这些因素其中之一。MicroCraft重新考虑所有零件材料也修改探针上的设计来加强探针硬度,同时也隔离外在对探针的影响。
一个螺丝即可进行更换
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MicroCraft的探针采用划时代的接触传感器,实现了低打痕的高性能的探针,可以以即插即用的方式简单地进行探针部件的更换。适用于柔软的柔性板及变形基板,对于C4凸起等高度不平的基板也可进行对应。
探针针尖
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探针针尖
刀型针适用于普通的基板,即使有通孔也能安定地进行接触。针形针的前端形状很细,适用于BGA等类型的高密度基板。
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四端子针 选购
四端子探针适用于低阻量测,针型Kelvin两支针的间距仅20 µm,可用来测试载板的C4 bump。
探针的构成
探针本体:安装在EMMA本体上使用
探针针座:通用针座
探针先端:在针座上安装探针针尖,可以作为探针组件使用
* 探针针尖的型号请参照我司《探针型录》。如果您需要探针型录,请与销售人员联系。
低扎痕刀型探针针尖
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A. 低打痕刀针 / B. 低扎痕锐角刀针 / C. 低扎痕段差刀针
用于检测有通孔的基板。扎痕小于标准刀针。
低扎痕针型探针针尖
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A. R10 低扎痕针型探针 / B. R20 低扎痕针型探针 / C. 扁平式30 低扎痕针型探针
用于检测没有通孔的基板。扎痕小于一般的针型探针。
刀型探针针尖
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A. 标准刀针 / B. 锐角刀针 / C. 段差刀针
用于测试基板有通孔的检查
针型探针针尖
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A. R20 针型探针 / B. R50 针型探针
用于检测没有通孔的基板。更适合高密度基板检测。
刀型4端子探针针尖
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A. 标准刀型4端子探针
用于有通孔的基板的4端子检测
针型4端子探针针尖
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A. R10 针型4端子探针 / B. 扁平20 针型4端子探针
细小焊盘基板用4端子检测时使用
探针针尖形状比较
刀型探针和低扎痕刀型探针
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通孔接触稳定。在检测那些超出阻焊仕样规格的基板时,可能会与阻焊层干涉。另外,虽说(B)的探针刀型形状与(A)一样,但它是低压针尖形状,与(A)相比,扎痕相对更小。
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即使是阻焊开口部很小的基板,也可与阻焊层不干涉地进行检查。但,对于那些孔径比较大的通孔,探针的幅度需要调大。另外,虽说(D)的探针刀型形状与(C)一样,但它是低压针尖形状,与(C)相比,扎痕相对更小。
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即使是阻焊开口部很小类型的基板,也可与阻焊层不干涉地进行检测。但,对于那些孔径比较大的通孔,可以通过调低锐角刀针的幅度来对应。另外,虽说(F)的探针刀型形状与(E)一样,但它是低压针尖形状,与(E)相比,其扎痕相对更小。
低扎痕针型探针
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R10 低扎痕针型探针
特点是扎痕面积非常地小
R20 低扎痕针型探针
与R10相比扎痕较浅
扁平式30 低扎痕针型探针
适合于高低不平的焊盘及检测时易打滑的检测点。
针型探针
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R20 针型探针
特点为扎痕面积小
R50 针型探针
特点为扎痕浅
刀型4端子探针针尖
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标准刀型4端子探针
标准刀型4端子探针
针型4端子探针针尖
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R10 开尔文针型
特点是扎痕面积非常地小
扁平20 开尔文针型
适合于高低不平的焊盘及检测时易打滑的检测点。