MicroCraft

  • 印刷电路板检测装置

MicroCraft的独特探针,种类丰富,
能对应包括低扎痕等各种要求及需要。

高速·高精度探针部件

Type10探针

Type10探针

Type10探针为了应对高速检测,对细节结构进行了重新审核,并采用轻量素材构成研发的新一代探针。通过设定能够最大限度的发挥搭载马达的扭矩性能及驱动速度,从而实现高速检测。

数字化PPC(Probe Pressure Control)
以稳定接触而得到公认好评的MicroCraft按压检测构造,新研发了数字化PPC(探针压力控制)让压力调整作业更简易化。探针交换时根据设备提示来进行探针更换,之后无需进行压力调整作业,设备直接按指定的压力值开始检测,其操作的简易程度令人震惊。此功能为本型录中的G型号标准配置。

Type9探针

Type9探针

内建编码器
Type9型探针是S系列(超高精度型号)的标准探针*。马达内置编码器,可以通过编码器的反馈进行平稳的控制,实现从低速到高速的,可靠性高的测试。且根据独特的速度设定,在维持低扎痕的同时提高检测速度。并配备了数字化PPC。

* S系列以外的机型为选配项目。

20微米焊盘的接触打痕

增强探針刚度
探针是完成精确定位的最后部分,但是它也是受众多外部因素影响的部分。 例如,温度是这些因素其中之一。MicroCraft重新考虑所有零件材料也修改探针上的设计来加强探针硬度,同时也隔离外在对探针的影响。

一个螺丝即可进行更换

MicroCraft的探针采用划时代的接触传感器,实现了低打痕的高性能的探针,可以以即插即用的方式简单地进行探针部件的更换。适用于柔软的柔性板及变形基板,对于C4凸起等高度不平的基板也可进行对应。

探针针尖

探针针尖
刀型针适用于普通的基板,即使有通孔也能安定地进行接触。针形针的前端形状很细,适用于BGA等类型的高密度基板。

四端子针 选购
四端子探针适用于低阻量测,针型Kelvin两支针的间距仅20 µm,可用来测试载板的C4 bump。

探针的构成

探针的构成探针的构成

探针本体:安装在EMMA本体上使用
探针针座:通用针座
探针先端:在针座上安装探针针尖,可以作为探针组件使用
* 探针针尖的型号请参照我司《探针型录》。如果您需要探针型录,请与销售人员联系。

低扎痕刀型探针针尖

低扎痕刀型探针针尖

A. 低打痕刀针 / B. 低扎痕锐角刀针 / C. 低扎痕段差刀针

用于检测有通孔的基板。扎痕小于标准刀针。

低扎痕针型探针针尖

低扎痕针型探针针尖

A. R10 低扎痕针型探针 / B. R20 低扎痕针型探针 / C. 扁平式30 低扎痕针型探针

用于检测没有通孔的基板。扎痕小于一般的针型探针。

刀型探针针尖

刀型探针针尖

A. 标准刀针 / B. 锐角刀针 / C. 段差刀针

用于测试基板有通孔的检查

针型探针针尖

针型探针针尖

A. R20 针型探针 / B. R50 针型探针

用于检测没有通孔的基板。更适合高密度基板检测。

刀型4端子探针针尖

刀型4端子探针针尖

A. 标准刀型4端子探针

用于有通孔的基板的4端子检测

针型4端子探针针尖

针型4端子探针针尖

A. R10 针型4端子探针 / B. 扁平20 针型4端子探针

细小焊盘基板用4端子检测时使用

探针针尖形状比较

刀型探针和低扎痕刀型探针

刀型探针和低扎痕刀型探针

通孔接触稳定。在检测那些超出阻焊仕样规格的基板时,可能会与阻焊层干涉。另外,虽说(B)的探针刀型形状与(A)一样,但它是低压针尖形状,与(A)相比,扎痕相对更小。

锐角刀型 / 低扎痕锐角刀型

即使是阻焊开口部很小的基板,也可与阻焊层不干涉地进行检查。但,对于那些孔径比较大的通孔,探针的幅度需要调大。另外,虽说(D)的探针刀型形状与(C)一样,但它是低压针尖形状,与(C)相比,扎痕相对更小。

分层刀型 / 低扎痕分层刀型

即使是阻焊开口部很小类型的基板,也可与阻焊层不干涉地进行检测。但,对于那些孔径比较大的通孔,可以通过调低锐角刀针的幅度来对应。另外,虽说(F)的探针刀型形状与(E)一样,但它是低压针尖形状,与(E)相比,其扎痕相对更小。

低扎痕针型探针

低扎痕针型探针

R10 低扎痕针型探针
特点是扎痕面积非常地小

R20 低扎痕针型探针
与R10相比扎痕较浅

扁平式30 低扎痕针型探针
适合于高低不平的焊盘及检测时易打滑的检测点。

针型探针

针型探针

R20 针型探针
特点为扎痕面积小

R50 针型探针
特点为扎痕浅

刀型4端子探针针尖

刀型4端子探针针尖

标准刀型4端子探针
标准刀型4端子探针

针型4端子探针针尖

针型开尔文探针

R10 开尔文针型
特点是扎痕面积非常地小

扁平20 开尔文针型
适合于高低不平的焊盘及检测时易打滑的检测点。

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